Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

Winner601?納米粒度及電位分析儀是濟南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的動態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。 Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項試驗。

關(guān)鍵詞：

納米粒度電位儀納米粒度及電位分析儀 zeta電位 Winner601

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納米粒度及電位儀

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Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀

產(chǎn)品簡介：

Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀是濟南微納推出的高端動態(tài)光散射分析系統(tǒng)，實現(xiàn)納米粒徑與Zeta電位同步測量。

系統(tǒng)融合動態(tài)光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）兩大核心技術(shù)，可精準(zhǔn)測定粒徑分布、Zeta電位及等電點，為納米顆粒穩(wěn)定性評價提供完整數(shù)據(jù)支撐。通過對顆粒尺寸與表面電性協(xié)同分析，助力用戶深入理解分散體系穩(wěn)定機制，廣泛應(yīng)用于材料研發(fā)、配方優(yōu)化、表面改性及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。

Winner601使用電泳光散射技術(shù)測定zeta電位，求出等電點，是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項試驗。

產(chǎn)品特點和優(yōu)勢：

1.電泳+光子相關(guān)雙核心技術(shù)

系統(tǒng)采用電泳光散射技術(shù)測定Zeta電位，通過分析顆粒在電場中的遷移行為，精準(zhǔn)計算其表面電勢特征；同時結(jié)合光子相關(guān)光譜技術(shù)獲取納米粒徑分布信息。

基于多普勒頻移與時間相關(guān)函數(shù)的高精度信號解析算法，系統(tǒng)能夠在復(fù)雜液相環(huán)境中識別微弱散射信號變化，實現(xiàn)對納米級顆粒運動的精確捕捉。通過粒徑與電位數(shù)據(jù)的協(xié)同分析，為用戶提供更加完整的分散穩(wěn)定性評估方案。

2.精密樣品池系統(tǒng)，保障測試純凈度與重復(fù)性

儀器配備低容量可拋棄粒度池與毛細(xì)管電極池，兼顧精度與便捷。樣品池光學(xué)性能優(yōu)異、電場均勻，有效減少雜散光與信號畸變，提升測量穩(wěn)定性。一次性使用設(shè)計顯著降低交叉污染風(fēng)險，確保測量環(huán)境純凈，為高靈敏度納米測試提供可靠保障。

3.高集成度分析平臺，提升實驗效率

高度集成納米粒徑與 Zeta 電位分析功能，一機完成顆粒尺寸與表面電性綜合表征。智能化軟件以直觀圖譜呈現(xiàn)結(jié)果，支持多維數(shù)據(jù)對比與趨勢分析，助力用戶快速把握體系變化規(guī)律，提升研發(fā)與質(zhì)控效率。

4.高精度光學(xué)系統(tǒng)，強化納米信號捕獲能力

系統(tǒng)憑借優(yōu)化光路、高穩(wěn)定激光源與高靈敏探測技術(shù)，實現(xiàn)納米尺度高信噪比信號采集，有效降低環(huán)境干擾，確保測試穩(wěn)定性與重復(fù)性。Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀廣泛應(yīng)用于材料、生物、制藥及化工領(lǐng)域，為乳液、膠體、蛋白質(zhì)溶液及納米懸浮體系提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

技術(shù)參數(shù)：

適用范圍：

Winner601 納米粒度及電位分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測儀器。

無

Winner802/803光子相關(guān)納米粒度儀